| 甲烷无氧芳构化催化剂的X光电子能谱分析 |
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| 引用本文： | 王琪莹,林维明,郑成,陈亿新.甲烷无氧芳构化催化剂的X光电子能谱分析[J].广州大学学报(自然科学版),2002,1(6):27-29. |
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| 作者姓名： | 王琪莹 林维明 郑成 陈亿新 |
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| 作者单位： | 广州大学,生物与化学工程学院,广东,广州,510091 |
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| 摘 要： | 通过对甲烷无氧芳构化反应不同焙烧温度催化剂进行X光电子能谱分析，发现600℃焙烧温度，催化剂中Mo(3d5)的结合能较400℃和700℃高，同时Mo的相对含量较高，在活性评价中，600℃焙烧的催化剂活性最好，说明了高价钼氧化物是催化剂活性物种的初始形态；同时发现高温焙烧（高于600℃）引起分子筛骨架脱铝，焙烧温度达700℃时，骨架脱铝变得严重，引起催化剂酸性下降，导致催化剂活性下降，而Si元素在700℃以下焙烧时相对稳定，分子筛基本骨架结构没有被破坏。
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| 关 键 词： | 甲烷 无氧芳构化 钼催化剂 X光电子能谱分析 焙烧温度 催化活性 |
| 文章编号： | 1671-4229(2002)06-0027-03 |
| 修稿时间： | 2002年7月12日 |
The XPS Analysis on Different Roasting Temperature Catalyst in Methane Aromatization |
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| WANG Qi-ying,LIN Wei-ming,ZHENG Cheng,CHEN Yi-xin.The XPS Analysis on Different Roasting Temperature Catalyst in Methane Aromatization[J].Journal og Guangzhou University:Natural Science Edition,2002,1(6):27-29. |
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| Authors: | WANG Qi-ying LIN Wei-ming ZHENG Cheng CHEN Yi-xin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | catalyst methane aromatization |
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