功率高压LED模组在不同应力下的老化实验 |
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引用本文: | 雷珺,郭伟玲,李松宇,谭祖雄.功率高压LED模组在不同应力下的老化实验[J].发光学报,2016(7):804-808. |
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作者姓名: | 雷珺 郭伟玲 李松宇 谭祖雄 |
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作者单位: | 北京工业大学电控学院光电子技术省部共建教育部重点实验室,北京,100124 |
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基金项目: | “863”国家高技术研究发展计划(2015AA03305) |
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摘 要: | 对LED进行应力加速老化实验及分析可以对器件可靠性做出最快、最有效的评估。本文将相同的6V高压功率白光LED分为两组,一组施加180 m A电流应力和85℃温度应力进行高温老化实验,另一组施加180 m A电流应力、85℃高温和85%相对湿度进行高温高湿老化实验。在老化过程中,测试了LED光电参数随老化时间的变化规律。实验结果表明:高温大电流应力下的样品的光退化幅度为0.9%~3.4%,高温高湿大电流应力下的样品的光退化幅度为25.4%~27.8%,高温高湿下样品的老化程度远高于高温老化下样品的老化程度,湿度对LED可靠性有显著的影响。退化的原因包括荧光粉的退化和器件内部欧姆接触退化等。
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关 键 词: | 白光LED 老化 光通量 光衰 |
Aging Experiments of High Voltage Power White LEDs Under Different Stresses |
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Abstract: | |
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Keywords: | white LED aging luminous flux light decay |
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