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Process variation robust current-mode on-chip interconnect signaling scheme
Authors:Wang Xinsheng  Hu Yizhe and Yu Mingyan
Institution:Microelectronic Center, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China;Microelectronic Center, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China;Microelectronic Center, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China
Abstract:global interconnect current-mode Monte Carlo
Keywords:global interconnect  current-mode  Monte Carlo
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