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MOCVD生长GaN的喇曼散射谱
引用本文:童玉珍,张国义,徐自亮,党小忠,王晶晶,金泗轩,王舒民,刘弘度.MOCVD生长GaN的喇曼散射谱[J].红外与毫米波学报,1996,15(1).
作者姓名:童玉珍  张国义  徐自亮  党小忠  王晶晶  金泗轩  王舒民  刘弘度
作者单位:北京大学物理系,介观物理国家重点实验室
摘    要:对在GaAs(001)、Al2O3(0001)和Si(111)等衬底上MOCVD技术生长的GaN薄膜进行了背散射几何配置下的喇曼散射测试分析和比较,观察到了α相GaN的A1(LO)模、A1(TO)模、E1(LO)模和E2模.结合X射线衍射谱,分析了因不同生长工艺导致GaN/GaAs样品的不同结构相的喇曼谱的差异,发现GaN的喇曼谱与GaN外延层的结构相、完整性及工艺条件有关,可利用其作为检测GaN外延层结构特性的一种有用手段.对含有少量β相GaN样品,观测到了包含有β相GaN贡献的声子模式(740cm-1).

关 键 词:GaN,喇曼散射,MOCVD,GaAs.

RAMAN SCATTERING SPECTRA OF GaN GROWN BY MOCVD
Tong Yuzhen,Zhang Guoyi,Xu Ziliang,Dang Xiaozhong,Wang Jingjing,Jing Sixuan,Wang Shumin,Liu Hongdu.RAMAN SCATTERING SPECTRA OF GaN GROWN BY MOCVD[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,1996,15(1).
Authors:Tong Yuzhen  Zhang Guoyi  Xu Ziliang  Dang Xiaozhong  Wang Jingjing  Jing Sixuan  Wang Shumin  Liu Hongdu
Abstract:
Keywords:GaN  Raman scattering  MOCVD  GaAs  
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