飞行时间二次离子质谱结合X—射线光电子能谱分析化学清洗后残留的…

用飞行时间二次离子质谱结合Ｘ射线光电子能谱，分析了用化学方法清洗后银片上残留的未知有机物。ＴＯＦ－ＳＩＭＳ与ＸＰＳ提供的互补的表面信息显示，中分子量以上的有机物主要是几种链长２２－２７碳原子、碳链饱和度很高的多酮类化合物，可能还有一些多酯类化合物。这些有机物中的Ｃ＝Ｏ基团易于采取氧原子指向金属基体表面的取向，通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附。