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| 公历一九三六年六月十九日上海日偏蚀时天空电离层游离程度之测量 | |
| 作者姓名： | 陈茂康 朱恩隆 梁百先 |
| 作者单位： | 国立中央研究院物理研究所;国立中央研究院物理研究所;国立中央研究院物理研究所 |
| 摘 要： | 本文报告公历一九三六年六月十九日在上海日偏蚀时用临界频率法测量天空电离层游离强度之变化就F_1层所显之结果而论,足为紫外线作用论强有力之一证惟按E层所显之结果则显出该层游离化之主因颇有一部分非紫外线之作用。 |
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