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XRD法测定沸石分子筛中硅铝比
引用本文:黄玮,储刚,丛玉凤.XRD法测定沸石分子筛中硅铝比[J].光谱实验室,2003,20(3):452-454.
作者姓名:黄玮  储刚  丛玉凤
作者单位:辽宁石油化工大学石油化工学院,辽宁省抚顺市丹东路西段1号,113001
摘    要:用X射线衍射外推函数法测定NaY超稳分子筛的晶胞参数,用^29Si、^27Al固体NMR方法测定分子筛骨架中的硅铝比,提出了NaY超稳分子筛硅铝比与晶胞参数关联的经验公式。通过测定分子筛的晶胞参数即可得到NaY超稳分子筛的硅铝比。该方法测得的NaY超稳分子筛硅铝比,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好。

关 键 词:X射线衍射  NaY分子筛  固体NMR  硅铝比
文章编号:1004-8138(2003)03-0452-03
修稿时间:2003年3月18日

Determination of Si/Al Ratio of Molecular Sieve by X-Ray Diffraction
HUANG Wei,CHU Gang,CONG Yu-Feng.Determination of Si/Al Ratio of Molecular Sieve by X-Ray Diffraction[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2003,20(3):452-454.
Authors:HUANG Wei  CHU Gang  CONG Yu-Feng
Abstract:The Si/Al ratio of NaY molecular sieve was determined by an empirical formula of lattice constant obtained by extension function method of X-ray diffraction and framework Si/Al ratio of NaY molecular sieve determined by solid nuclear magnetic resonant spectrum method.The method is simpler,more convenient and better repeatable than the traditional used chemical analysis method.
Keywords:XRD  NaY Molecular Sieve  Solid Nuclear Magnetic Resonant  Si/Al Ratio  
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