|
|||||
|
|
| 非接触式位移传感器——光学测微计 | |
| 作者姓名： | ァソリツビル 王正和 |
| 摘 要： | 一、概述在量纲分析中,测量长度这个重要量纲的装置,正在社会上得到广泛研究和应用。在接触式长度测量装置中,有度盘式仪表、游标卡尺和测微计等,是产业界常用的测量工具。由于现代电子学的发展与工业生产效率的相互促进,生产中的自动化、轻型化浪潮汹涌,对非接触式快速、高精度地测量长度的要求更加紧迫了。针对这样的社会需要,促进了光学、超 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||
|
||||||||||||
|
||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |