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椭偏法测膜厚的直接计算方法
作者姓名:吴永汉 窦菊英
作者单位:云南大学物理系!昆明,650091,云南大学物理系!昆明,650091
摘    要:改进了椭偏法测薄膜折射率和膜厚的迭代计算方法,由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出薄膜折射率和膜厚.

关 键 词:椭偏法 迭代计算 薄膜 折射率 膜厚
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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