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基于太赫兹时域光谱的胶层厚度均匀性检测
引用本文:李丽娟,周明星,任姣姣.基于太赫兹时域光谱的胶层厚度均匀性检测[J].激光与红外,2014,44(7):801-804.
作者姓名:李丽娟  周明星  任姣姣
作者单位:长春理工大学光电测控技术研究所,吉林 长春 130022
基金项目:国家863重大项目(No.2012AA7060407)资助
摘    要:太赫兹波与不同的介质相互作用,探测器在不同的时间节点检测到携带介质信息的太赫兹时域波形,分析不同时域波形峰值点的飞行时间差,分别建立了透射式和反射式太赫兹无损检测单点厚度提取模型。在柔性装配过程中,一般有机硅胶的折射率难以提取,基于单点厚度提取模型,绘制了胶层空间分布三维形貌图,并提出了采用厚度均匀性标准偏差的方法评价胶层空间分布离散性。太赫兹时域光谱技术系统分析胶层厚度的均匀性,检测精度可达100μm,对保证胶层连接强度有重要意义。

关 键 词:太赫兹  无损检测  胶层厚度均匀性

Test of the adhesive thickness uniformity based on terahertz time-domain spectroscopy
LI Li-juan,ZHOU Ming-xing,REN Jiao-jiao.Test of the adhesive thickness uniformity based on terahertz time-domain spectroscopy[J].Laser & Infrared,2014,44(7):801-804.
Authors:LI Li-juan  ZHOU Ming-xing  REN Jiao-jiao
Institution:Institute of Photoelectric Measurement and Control Technology,Changchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China
Abstract:
Keywords:terahertz  nondestructive inspection  adhesive thickness uniformity
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