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| 薄膜辐射热探测器 | |
| 引用本文： | 竺乃宜,李红德,邹惠良,崔季平,李连祥,高俊杰,张瑞智,董向红,张敏,黄文国.薄膜辐射热探测器[J].力学学报,1978(3). |
| 作者姓名： | 竺乃宜 李红德 邹惠良 崔季平 李连祥 高俊杰 张瑞智 董向红 张敏 黄文国 |
| 作者单位： | 中国科学院力学研究所 (竺乃宜，李红德，邹惠良，崔季平，李连祥)，天津大学无线电系 (高俊杰，张瑞智，董向红，张敏)，天津大学无线电系(黄文国) |
| 摘 要： | 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。 |
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