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P schl-Teller势阱中线性与非线性光学折射率变化
引用本文:谭鹏,路洪. P schl-Teller势阱中线性与非线性光学折射率变化[J]. 发光学报, 2006, 27(5): 646-650
作者姓名:谭鹏  路洪
作者单位:佛山大学, 物理系, 广东, 佛山, 528000
基金项目:广东省自然科学基金;广东省自然科学基金
摘    要:利用量子力学中的密度矩阵算符理论导出了P schl-Teller势阱中的线性与三阶非线性光学折射率的解析表达式。P schl-Teller势阱中有两个可调参数κ和λ,势阱的形状及其非对称性会随势阱参数的取值不同而明显不同,从而其线性与非线性光学折射率变化的大小也会随势阱参数和入射光强的变化而呈规律性的变化。文章以典型的GaAs/AlGaAs势阱为例作了数值计算,数值计算结果表明,势阱的形状和入射光强对光学折射率有着重要的影响。

关 键 词:P schl-Teller势阱  折射率  密度矩阵近似
文章编号:1000-7032(2006)05-0646-05
收稿时间:2006-04-28
修稿时间:2006-07-15

Linear and Nonlinear Refractive Index Changes in P(o)schl-Teller Well
TAN Peng,LU Hong. Linear and Nonlinear Refractive Index Changes in P(o)schl-Teller Well[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2006, 27(5): 646-650
Authors:TAN Peng  LU Hong
Affiliation:Department of Physics, Foshan University, Foshan 528000, China
Abstract:Analytical expressions of linear and third-order nonlinear optical refractive index changes are obtained in Poschl-Teller well using the density matrix formalism taking into account the intrasubband relaxation. Since there are two adjustable parameters κ and λ in the Poschl-Teller well, the shape of the wells will change with the change of the parameters κ and λ, accordingly the linear and the third-order nonlinear refractive index will change with the para-meters κ and λ. It is shown that the refractive index changes depends on the shape of the well, the tunnel bandwidth and the optical power. Numerical results are presented for a typical GaAs/AlGaAs Poschl-Teller well.
Keywords:Poschl-Teller well  refractive index  density matrix approach
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