激光衍射仪检验JEM-200CX点分辨率及测定Cs和△f |
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引用本文: | 邵健中,王幼文.激光衍射仪检验JEM-200CX点分辨率及测定Cs和△f[J].电子显微学报,1986(3). |
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作者姓名: | 邵健中 王幼文 |
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作者单位: | 浙江大学无线电系,浙大中试室 |
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摘 要: | 用光学衍射环状花样检验透射电镜点分辨率,要比从图象直接测量间距更为正确,厂商和用户都正在推广这种检验法。在高分辨率成像领域内,象衬度主要是相位衬度。电子波穿越很薄的“弱相位”物体时,物体结构产生的散射效应将只引起电子波微小的相位差(衬度)。为了在最终的象内把相位衬度转化为探测元件能感受的
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