| 电子显微镜的发展以及在出土纺织品检测上的应用 |
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| 引用本文： | 王永礼,屠恒贤.电子显微镜的发展以及在出土纺织品检测上的应用[J].物理与工程,2005,15(3):29-32. |
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| 作者姓名： | 王永礼 屠恒贤 |
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| 作者单位： | 1. 东华大学纺织学院,上海,200051;淮南师范学院物理系,安徽,淮南,232001
2. 东华大学纺织学院,上海,200051 |
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| 摘 要： | 本文论述了电子显微镜的发展现状，介绍了目前最先进的几种电子显微镜，如扫描隧道显微镜、原子力显微镜、扫描探针显微镜的结构、原理以及在现代科学研究中的应用情况，对电子显微镜在出土古代纺织材料检测中的应用进行了探讨．
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| 关 键 词： | 电子显微镜 STM AFM SPM 纺织材料检测 纺织品检测 应用情况 出土 扫描隧道显微镜 扫描探针显微镜 |
THE DEVELOPMENT OF ELECTRON MICROSCOPE AND APPLICATION ON TESTING ANCIENT TEXTILE |
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| Wang Yongli,Tu Hengxian.THE DEVELOPMENT OF ELECTRON MICROSCOPE AND APPLICATION ON TESTING ANCIENT TEXTILE[J].Physics and Engineering,2005,15(3):29-32. |
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| Authors: | Wang Yongli Tu Hengxian |
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| Abstract: | This paper discusses the development of electron microscope and introduces three kinds advanced electron microscope: scanning tunneling microscope, atomic force microscope, scanning probe microscope. The paper discusses their principle and structure and introduces their applications in present-day science and technology researching, it investigates the way of using electron microscope to identify ancient textile material. |
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