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利用显微分光测光法评定增透膜表面的剩余反射
引用本文:Л.С.Агроскин,Г.В.Папаян,Д.П.РауТиан,А.Г.Кудрявчева,张静婵.利用显微分光测光法评定增透膜表面的剩余反射[J].应用光学,1987(6).
作者姓名:Л.С.Агроскин  Г.В.Папаян  Д.П.РауТиан  А.Г.Кудрявчева  张静婵
摘    要:建议采用显微分光测光法来评定增透膜光学零件的剩余反射。这种方法的优点在于能检验各种不同尺寸和形状的零件,其中也包括大曲率透镜。

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