首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

半导体致冷ΔT·Q参数智能测试系统
引用本文:迟泽涛.半导体致冷ΔT·Q参数智能测试系统[J].红外技术,1993,15(4):17-19.
作者姓名:迟泽涛
摘    要:

关 键 词:半导体致冷  微机  热偶卡
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号