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| ICP—MS测定高纯氧化镥中痕量稀土和非稀土杂质研究 | |
| 引用本文： | 张楠,刘湘生.ICP—MS测定高纯氧化镥中痕量稀土和非稀土杂质研究[J].分析测试学报,1997,16(3):69-72. |
| 作者姓名： | 张楠 刘湘生 |
| 作者单位： | 北京有色金属研究总院测试所 |
| 摘 要： | 本文报道了ＩＣＰＭＳ直接测定高纯（９９．９９９％～９９．９９９９％）氧化镥中痕量稀土和非稀土杂质的新方法。对ＩＣＰＭＳ测定中产生的谱干扰和基体效应进行了详细考查。试验结果表明：用Ｃｓ作内标，可有效地补偿因氧化镥引起的基体效应。方法的检出限在０．ｘ～０．０ｘμｇ／Ｌ范围；相对标准偏差（ＲＳＤ）（ｎ＝７）＜１０％。本法已应用于高纯氧化镥工艺流程分析和产品分析。 |
| 关 键 词： | 等离子体质谱，氧化镥，稀土杂质，非稀土杂质，内标法，高纯物质 |
Determination of Trace Rare Earth and Non rare Earth Impurities in High purity Lutetium Oxide by ICP MS |
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| Zhang Nan,Liu Xiangsheng,Cai Shaoqing.Determination of Trace Rare Earth and Non rare Earth Impurities in High purity Lutetium Oxide by ICP MS[J].Journal of Instrumental Analysis,1997,16(3):69-72. | |
| Authors: | Zhang Nan Liu Xiangsheng Cai Shaoqing |
| Abstract: | |
| Keywords: | ICP MS High purity materials Lutetium oxide Rare earth impurities Non rare earth impurities Internal standard |
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