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| 单幅对称变形相位图分离二维变形分量的相移电子散斑干涉技术 | |
| 作者姓名： | 孙平 |
| 作者单位： | 山东师范大学,物理与电子科学学院,济南,250014 |
| 摘 要： | 提出了利用相移电子散斑干涉测量物体二维变形分量的方法.单光束照明的传统电子散斑干涉技术,测量得到的是一幅物体变形的混合相位场.当物体具有对称变形时,可由这一幅相位图求得二维变形分量.方法是将该相位图镜像翻转得到第二幅相位图,通过二幅相位图的叠加、复位和分离运算,获得物体的二维变形场的分量值.利用三点加载的简支梁进行了实验,给出了实验结果,并与对称光照明实验结果进行了对比,验证了该方法的正确性. |
| 关 键 词： | 物理光学 电子散斑干涉 位移测量 对称变形 |
| 文章编号： | 1004-4213（2008）02-0337-3 |
| 收稿时间： | 2006-09-26 |
| 修稿时间： | 2006-09-26 |
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