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杂志ISSN号
ICP—AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质
作者姓名:
张少夫
摘 要:
本文采用Jobin Yvon 38Ⅱ谱仪直接测定高纯氧化铕中Cs,Pr,Sm,Ga,Dy5个稀土杂质,试验考查了氧化铕基体,共存元素,酸度等因素的影响。利用正交试验L25(5)^6确定了仪器最佳条件。当基体纯度为99.99%时;回收率在94.0~108.0%之间。在实际应用中获得满意的结果。
关 键 词:
氧化铕 ICP-AES 荧光级 稀土金属
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