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| ICP—AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质 | |
| 引用本文： | 张少夫.ICP—AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质[J].分析试验室,1994,13(2):69-71. |
| 作者姓名： | 张少夫 |
| 摘 要： | 本文采用Ｊｏｂｉｎ Ｙｖｏｎ ３８Ⅱ谱仪直接测定高纯氧化铕中Ｃｓ，Ｐｒ，Ｓｍ，Ｇａ，Ｄｙ５个稀土杂质，试验考查了氧化铕基体，共存元素，酸度等因素的影响。利用正交试验Ｌ２５（５）＾６确定了仪器最佳条件。当基体纯度为９９．９９％时；回收率在９４．０～１０８．０％之间。在实际应用中获得满意的结果。 |
| 关 键 词： | 氧化铕 ICP－AES 荧光级 稀土金属 |
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