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用电子束蒸发制作Nb超导薄膜和Nb隧道结
作者姓名:孟小凡  崔广霁  李嘉璋  郭维新  王守证  吴修文  张太平  魏玉梅
作者单位:北京大学物理系(孟小凡,崔广霁,李嘉璋,郭维新,王守证),北京大学微电子研究室(吴修文,张太平),北京大学微电子研究室(魏玉梅)
摘    要:本文报道了在10~(-5)—10~(-6)托的高真空下用电子束蒸发制作高质量的Nb超导薄膜的实验结果,Nb膜的临界温度T_c可以达到9.2K,接近大块纯Nb的T_c值(~9.3K)。研究了薄膜厚度、蒸发速率、衬底温度和真空度等淀积条件对Nb膜T_c的影响。用X射线衍射、电子显微和表面分析等方法分析了Nb膜的成分和结构。 用热氧化、直流辉光放电氧化和射频氧化等方法制成了Nb-NbO_x-Pb隧道结,通过表面分析研究了氧化位垒层的成分。对Nb隧道结的稳定性作了初步考察,40个串联结经过61次室温-4.2K之间的热循环和在室温下保存200天以上,结的I-V特性没有显著变化。

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