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低温放大器噪声测试平台结构设计与测试方法
引用本文:贾黎,王自力,吴志华,纪斌. 低温放大器噪声测试平台结构设计与测试方法[J]. 低温与超导, 2019, 47(8): 48-51,64
作者姓名:贾黎  王自力  吴志华  纪斌
作者单位:中国电子科技集团有限公司第十六研究所,合肥,230088;中国电子科技集团有限公司第十六研究所,合肥,230088;中国电子科技集团有限公司第十六研究所,合肥,230088;中国电子科技集团有限公司第十六研究所,合肥,230088
摘    要:本文介绍了一种低温放大器快速准确噪声测试方法,及低温测试平台的结构设计,分析了测试系统的测量误差,并给出测试平台在L波段低温放大器测试结果,噪声测试误差<±1.5 K。结果表明,高精度噪声测试系统的建立为低温放大器的研制提供了必要条件。

关 键 词:低温放大器  测试平台  噪声测量  低温衰减器法

Structure design and test method of noise measurement platform of cryogenic amplifier
Abstract:
Keywords:
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