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GaAs(100)表面氧化的XPS 研究
引用本文:任殿胜,王为,李雨辰,严如岳.GaAs(100)表面氧化的XPS 研究[J].化学物理学报,2004,17(1):87-90.
作者姓名:任殿胜  王为  李雨辰  严如岳
作者单位:天津大学化工学院,天津大学化工学院,中国电子科技集团公司第四十六研究所,中国电子科技集团公司第四十六研究所 天津300072,中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津300192,天津300072,天津300192,天津300192
摘    要:用X射线光电子能谱仪 (XPS)研究了砷化镓 (GaAs)晶片在空气中的热氧化和在紫外光 臭氧激发下的氧化反应 .分析了氧化层中的微观化学构成、表面化学计量比以及表面氧化层的厚度等 .研究表明 ,两种氧化方法的氧化过程不同 ,在砷化镓表面形成的氧化膜的厚度以及组成也不同 ,热氧化下氧化层主要由Ga2 O3、As2 O3、As2 O5 以及少量元素As组成 ,而且表面明显富镓 ;紫外光激发下生成的氧化物主要为Ga2 O3 和As2 O3 ,镓砷比与本体一致 .讨论了可能的反应机理 ,紫外光不仅将氧分子激发为激发态氧原子 ,增加了氧的反应活性 ;同时也激发了GaAs材料的价电子 ,使其更容易被氧化

关 键 词:XPS  砷化镓  表面氧化
收稿时间:2003/2/24 0:00:00

Studies of Oxidation on GaAs(100) Surface by XPS
Ren Diansheng,Wang Wei,Li Yuchen and Yan Ruyue.Studies of Oxidation on GaAs(100) Surface by XPS[J].Chinese Journal of Chemical Physics,2004,17(1):87-90.
Authors:Ren Diansheng  Wang Wei  Li Yuchen and Yan Ruyue
Institution:Ren Diansheng a,b*,Wang Wei a,Li Yuchen b,Yan Ruyue b
Abstract:
Keywords:XPS  GaAs  Surface oxidation
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