光学测试 材料光学性能测试与设备

TB96 2005053883 基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数= Measurement of linear electro-optic coefficients of poled polymers by an optical fiber M-Z interferometer刊,中]／ 洪建勋(上海交通大学区域光纤通信网与新型光通信系统 国家重点实验室．上海(200030)),陈建平…∥光电子·激 光．-2005,16(4)．-462-465 提出了采用Mach-Zehnder(M-Z)光纤干涉仪的电光 聚合物电光系数测量方法,对其测量原理进行了分析,研 究了光纤干涉仪的臂长差、样品的插入损耗对系统可见度 的影响,讨论了通过合理设置耦合器的耦合系数提高系统 测量性能的方法。系统具有较好的稳定性和较高的灵敏 度,既适合于聚合物薄膜也适合于聚合物波导的测量,系 统干涉可见度为0．86,可分辨的最小相位变化约为6× 10-4rad。该系统可以同时测量2个独立的电光系数γ13