光学亚表面损伤的探测和后处理技术 |
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引用本文: | 陈宁,张清华.光学亚表面损伤的探测和后处理技术[J].工程物理研究院科技年报,2003(1):356-357. |
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作者姓名: | 陈宁 张清华 |
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摘 要: | 光学元件的损伤问题已成为高功率固体激光装置研制的核心问题,而紫外的损伤尤为严重。光学元件的激光损伤与能吸收能量的多种缺陷有关,例如:表面污染、表面擦伤和材料本体的缺陷(气泡或所含杂质)等。研究工作拟从光学元件的亚表面损伤人手,探测不同的光学制造工艺造成的特征亚表面缺陷,研究这些缺陷对激光损伤研制的影响。建立亚表面缺陷化学后处理装置,减少或消除亚表面缺陷所引起激光损伤的程度,为光学元件制造工艺选型提供必要的依据。
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关 键 词: | 光学元件 亚表面损伤 固体激光器 无损检测 后处理 |
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