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半导体器件无损筛选研究
引用本文:
徐曦.半导体器件无损筛选研究[J].电子技术参考,1999(2):18-26.
作者姓名:
徐曦
摘 要:
半导体器件的无损筛选不同于普通统计筛选,它通过少量器件辐照试验,实现对未辐照器件按辐照性能进行筛选分类的目的,此技术可以筛选出辐射性能提高几倍的器件。
关 键 词:
无损筛选
半导体器件
抗辐射加固
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