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| 关于元件失效率等级鉴定试验的一种贝叶斯方法 | |
| 引用本文： | 陶波,苏德清.关于元件失效率等级鉴定试验的一种贝叶斯方法[J].应用概率统计,1990,6(3):316-322. |
| 作者姓名： | 陶波 苏德清 |
| 作者单位： | 中国科学院系统科学研究所，中国电子技术标准化研究所，华东师范大学，上海师范大学 |
| 摘 要： | 为鉴定元件失效率的等级,按目前国家标准GB1772-79规定的抽样方案,需要做大量的试验,构成人力、物力的浪费,做较高等级的鉴定甚至是不可能的.本文采用贝叶斯方法,利用大量的历史数据和工程技术人员的丰富经验确定先验分布,制定出元件失效率等级鉴定试验的一种新方案.按照这一方案,在确保产品质量的前提下,将大大节省试验时间,从而得到十分可观的经济效益。 |
| 关 键 词： | 失效率等级 寿命 贝叶斯方法 |
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