| X-射线K值法测定硅铁中硅的含量 |
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| 引用本文： | 姚艳红,阚玉和,王思宏,尹起范.X-射线K值法测定硅铁中硅的含量[J].分析化学,2002,30(5):639-639. |
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| 作者姓名： | 姚艳红 阚玉和 王思宏 尹起范 |
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| 作者单位： | 延边大学分析测试中心,延吉,133002 |
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| 摘 要： | 1 引 言硅铁是我国大宗出口产品之一 ,在炼钢铸铁、有色金属工业中用途极为广泛 ,是良好的脱氧剂、合金剂和添加剂。因此 ,对硅铁中硅含量的测定是十分重要的。目前硅铁中硅含量的测定方法主要有高氯酸脱水重量法、动物胶凝聚重量法、硅氟酸钾容量法、密度法、硅钼蓝光度法、硅钼蓝差示光度法 ,Ｘ 射线荧光光度法、Ｘ 射线间接法。采用Ｘ 射线Ｋ值法直接测定硅铁中硅的含量 ,还未见过报道。本文选用高纯度的硅为标样 ,碳酸钙为参比物质 ,测得的Ｋ值为 2 0 2 7,并用此Ｋ值测定了硅铁中硅的含量 ,结果满意。2 实验部分2 1 仪器和实验…
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| 关 键 词： | X－射线K值法 测定 硅铁 硅 |
Determination of Silicon Content in Ferrosilicon by K Value Method of Ｘ ray diffraction |
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