| 残差X—图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力 |
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| 引用本文： | 姜永康,王静龙.残差X—图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力[J].应用概率统计,2001,17(1):51-58. |
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| 作者姓名： | 姜永康 王静龙 |
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| 作者单位： | 华东师范大学统计系 |
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| 摘 要： | 本文将SPC（Statistical Process Control）技术应用于自相关数据，使用的基本方法是对数据做残差处理，本文给出了对于平稳可逆的ARMA过程数据，在检验过程均值变化方面，残差X－图优于X－图的条件。
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| 关 键 词： | 残差X－图 SPC 平稳可逆ARMA过程 检验能力 |
| 修稿时间： | 1999年6月8日 |
Detection Capability of Residual X-Chart for Stationary Reversible ARMA Process Data |
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| JIANG YONGKANG,Wang Jinglong.Detection Capability of Residual X-Chart for Stationary Reversible ARMA Process Data[J].Chinese Journal of Applied Probability and Statisties,2001,17(1):51-58. |
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| Authors: | JIANG YONGKANG Wang Jinglong |
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| Abstract: | In the statistical process control environment a primary method to deal with auto-correlated data is the use of a residual chart. The detection capability of the residual X-Chart for the stationary reversible ARMA process will be studied in this paper. Conditions under which the residual X-Chart reduces or increases the detection capability are given. |
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