| 电子能量损失谱探测银纳米棒与介质层强耦合的数值模拟 |
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| 作者姓名： | 赵世杭 张元 吕思远 程少博 郑长林 王鹿霞 |
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| 作者单位： | 1. 北京科技大学数理学院物理系理论物理研究所;2. 郑州大学物理学院材料物理教育部重点实验室;3. 复旦大学物理学系应用表面物理国家重点实验室 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号:21961132023,12004344,11774026,61871134)资助的课题~~； |
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| 摘 要： | 表面等离激元与量子发射体间的强耦合现象通常通过散射、吸收以及荧光等远场光谱探测方法进行研究.利用高度聚焦的电子束,电子能量损失谱能够实现亚纳米尺度的局域探测,可以更加有效地研究强耦合现象.本文在理论上分别模拟了银纳米棒、介质材料以及介质层包裹银纳米棒复合结构的电子能量损失谱.得到了可以与实验结果比拟的银纳米棒表面等离激元的电子能量损失谱.在上述复合结构的电子能量损失谱中观察到了谱峰的拉比劈裂,探究了银纳米棒尺寸对拉比劈裂的影响.分别在红外、可见光波段讨论了介质层的元激发与银纳米棒偶极辐射及高阶非辐射表面等离激元模式间的强耦合现象,从损失谱的空间分布成像角度探讨了强耦合引起的杂化等离激子(plexciton)的形成.本研究对强耦合现象的进一步实验和理论研究具有指导意义.
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| 关 键 词： | 电子能量损失谱 表面等离激元 强耦合 |
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