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用反型层模型探讨n—Ge中的常温反常霍耳效应
引用本文:邢旭,姜伟,王锡绂. 用反型层模型探讨n—Ge中的常温反常霍耳效应[J]. 物理学报, 1989, 38(7): 1210-1214
作者姓名:邢旭  姜伟  王锡绂
作者单位:(1)东北师范大学物理系; (2)东北师范大学物理系,辽阳石油化工专科学校
摘    要:本文用反型层模型,对常温下n-Ge中的反常霍耳效应进行了理论上的定量计算,取得了与实验一致的结果。关键词

关 键 词:反型层模型 n-Ge 反常霍耳效应
收稿时间:1988-11-22

INVESTIGATION OF THE ANOMALOUS HALL EFFECT IN n-Ge AT ROOM TEMPERATURE BY THE INVERSION LAYERS MODEL
XING XU,JIANG WEI and WANG XI-FU. INVESTIGATION OF THE ANOMALOUS HALL EFFECT IN n-Ge AT ROOM TEMPERATURE BY THE INVERSION LAYERS MODEL[J]. Acta Physica Sinica, 1989, 38(7): 1210-1214
Authors:XING XU  JIANG WEI  WANG XI-FU
Abstract:In this paper, we make quantitative rheor ncal calculation for the anomalous Hall effect in n-Ge semiconductor at room teperature by use of the inversion layers model. The results are in agreement with the experiments.
Keywords:
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