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Mutual influence of elements in x-ray fluorescence analysis of thin bilayer Ni/Ge-systems
Authors:N. I. Mashin  A. G. Razuvaev  E. A. Chernyaeva  A. N. Tumanova  A. A. Ershov
Affiliation:1. N. I. Lobachevskii State University of Nizhnii Novgorod, 23 (Bldg. 5) Gagarin Ave., Nizhnii Novgorod, 603950, Russia
Abstract:
Keywords:
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