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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
Microstructure and strain films using in-plane grazing analysis of GaN epitaxial incidence x-ray diffraction
Authors:
Guo Xi
Wang Yu-Tian
Zhao De-Gang
Jiang De-Sheng
Zhu Jian-Jun
Liu Zong-Shun
Wang Hui
Zhang Shu-Ming
Qiu Yong-Xin
Xu Ke
and Yang Hui
Affiliation:
[1]State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Belting 100083, China [2]Suzhou Institute of Nano-tech and Nano-bionics, Chinese Academy of Sciences, Suzhou 215125, China
Abstract:
in-plane grazing incidence x-ray diffraction, gallium nitride, mosaic structure, biaxialstrain
Keywords:
in-plane grazing incidence x-ray diffraction
gallium nitride
mosaic structure
biaxialstrain
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