首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

薄膜电阻器瓷基体的分析研究
引用本文:张永祥,周淑香.薄膜电阻器瓷基体的分析研究[J].电子元件与材料,1989,8(1):61-64,37.
作者姓名:张永祥  周淑香
作者单位:天津大学电子系 (张永祥,包兴),国营北京无线电器材厂(周淑香)
摘    要:本文对国内外薄膜电阻器瓷基体进行了全面的测量分析,其中有宏观和微观的测量。例如:瓷基体表面粗糙度的测量和等级评定,瓷基体表面开口气孔率、吸水率、体密度的测量,在微观分析方面有:瓷基体表面形貌观察与分析,瓷基体的物相分析与测量等。 通过这些分析测量,找出它们之间的联系,并和国外同类型产品相比较,找到了差距。据此指明了今后努力的方向及提高产品质量的措施等。

关 键 词:薄膜电阻器  瓷基体  电阻器
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号