薄膜电阻器瓷基体的分析研究 |
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引用本文: | 张永祥,周淑香.薄膜电阻器瓷基体的分析研究[J].电子元件与材料,1989,8(1):61-64,37. |
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作者姓名: | 张永祥 周淑香 |
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作者单位: | 天津大学电子系
(张永祥,包兴),国营北京无线电器材厂(周淑香) |
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摘 要: | 本文对国内外薄膜电阻器瓷基体进行了全面的测量分析,其中有宏观和微观的测量。例如:瓷基体表面粗糙度的测量和等级评定,瓷基体表面开口气孔率、吸水率、体密度的测量,在微观分析方面有:瓷基体表面形貌观察与分析,瓷基体的物相分析与测量等。 通过这些分析测量,找出它们之间的联系,并和国外同类型产品相比较,找到了差距。据此指明了今后努力的方向及提高产品质量的措施等。
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关 键 词: | 薄膜电阻器 瓷基体 电阻器 |
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