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| 多检测GPC／SEC技术在高分子表征中的应用：Ⅵ.MHS方程K,α参 … | |
| 作者姓名： | 黄怿 卜乐炜 |
| 作者单位： | 华东理工大学材料科学与工程学院!上海200237 |
| 摘 要： | 采用体积排斥色谱法／示差折光指数／直角激光光散射／示差粘度三检测联用技术分别测定了窄分布和宽分布聚苯乙烯标样；得到了Ｍａｒｋ－Ｈｏｕｗｉｎｋ－Ｓａｋｕｒａｄａ方程的Ｋ、α参数；计算了不同分子量范围的ＭＨＳ方程指数α，建立了旋转半径和分子量的关系式。结果表明ＳＥＣ／ＲＩ／ＲＡＬＬＳ／ＤＶ可以准确和方便地获取ＭＨＳ方程的Ｋ、α参数，α值具有分子量依赖性。 |
| 关 键 词： | 体积排斥色谱法 MHS方程 K,α参数 高分子表征 |
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