| 利用针缝法测量强流栅控脉冲电子枪束流发射度 |
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| 引用本文： | 关秀芬 史秀珍. 利用针缝法测量强流栅控脉冲电子枪束流发射度[J]. 强激光与粒子束, 1992, 4(2): 215-222 |
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| 作者姓名： | 关秀芬 史秀珍 |
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| 作者单位： | 中国原子能科学研究院，中国原子能科学研究院，中国原子能科学研究院，中国原子能科学研究院，中国原子能科学研究院，中国原子能科学研究院，中国原子能科学研究院 北京275信箱17分箱 102413，北京275信箱17分箱 102413，北京275信箱17分箱 102413，北京275信箱17分箱 102413，北京275信箱17分箱 102413，北京275信箱17分箱 102413，北京275信箱17分箱 102413 |
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| 摘 要： | 采用单缝单针法测量电子枪束流的发射度。用可移动的宽0.1mm单缝取样,与缝平行的直径为0.1mm匀速运动的探针接收穿过狭缝的束流。 缝、针距离为59mm,角分辨率为3.4mrad,系统最大接收度为0.64cm·rad。缝、针间设有平行度调节装置,提高了测量精度;狭缝板设有水冷结构,可承受较大的束流功率,采用良好的屏蔽及合理的二次电子抑制结构,清晰地测出了10~(-10)A量级的弱信号电流。所测相图的相对误差约为8％。利用该装置方便地测得了电子枪高压、栅控脉冲电压、阴极温度、脉冲流强等不同条件下的发射度变化。
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| 关 键 词： | 针缝发射度测量仪 发射度测量 单缝单探针 |
EMITTANCE MEADUREMENTS BASING ON PROBE-SLIT METHOD FOR A HIGH CURRENT GRID-CONTROLLED PULSE ELECTRON GUN |
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| Guan Xiufen,Shi Xiuzhen,Zhang Yinghua,Pa Yuli,Liu Chen,Li Youzhi,and Chen WenkuiChina Institute of Atomic Energy,No. P. O.Box ,Beijing. EMITTANCE MEADUREMENTS BASING ON PROBE-SLIT METHOD FOR A HIGH CURRENT GRID-CONTROLLED PULSE ELECTRON GUN[J]. High Power Laser and Particle Beams, 1992, 4(2): 215-222 |
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| Authors: | Guan Xiufen Shi Xiuzhen Zhang Yinghua Pa Yuli Liu Chen Li Youzhi and Chen WenkuiChina Institute of Atomic Energy No. P. O.Box Beijing |
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| Affiliation: | Guan Xiufen,Shi Xiuzhen,Zhang Yinghua,Pa Yuli,Liu Chen,Li Youzhi,and Chen WenkuiChina Institute of Atomic Energy,No. 17 P. O.Box 275,Beijing,102413 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | emittance measurement single slit and probe probe-slit emittance measurement device. |
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