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低阻抗脉冲电子束加速器的二极管参数测量
引用本文:刘俊民 张永民. 低阻抗脉冲电子束加速器的二极管参数测量[J]. 强激光与粒子束, 1992, 4(3): 343-348
作者姓名:刘俊民 张永民
作者单位:西北核技术研究所,西北核技术研究所,西北核技术研究所,西北核技术研究所 西安69信箱 710024,西安69信箱 710024,西安69信箱 710024,西安69信箱 710024
摘    要:低阻抗脉冲电子束加速器二极管的状态对加速器的调试运行是十分重要的。采用WP-2250可编程数字化系统将二极管电流、电压及电流随时间变化率波形进行时间关联、记录,通过数据处理获得了所需的二极管参数和二极管动态参数。

关 键 词:二极管  采集  处理

MEASUREMENT FOR REB ACCELERATOR DIODE PARAMETER
Liu Junmin,Zhang Yongmin,Qiu Aici,and Guo Jianmin Northwest Institute of Nuclear Technology,P.O.Box ,Xi'an. MEASUREMENT FOR REB ACCELERATOR DIODE PARAMETER[J]. High Power Laser and Particle Beams, 1992, 4(3): 343-348
Authors:Liu Junmin  Zhang Yongmin  Qiu Aici  and Guo Jianmin Northwest Institute of Nuclear Technology  P.O.Box   Xi'an
Affiliation:Liu Junmin,Zhang Yongmin,Qiu Aici,and Guo Jianmin Northwest Institute of Nuclear Technology,P.O.Box 69,Xi'an,710024
Abstract:A WP-2250 controller based programmable digitizer system is used on line to record and analyze the signals of the REB accleralar diode. The date acquisition and processing is introduced.
Keywords:diode   acquisition   processing.  
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