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水蒸气分压强对ITO薄膜均匀性和光电性能的影响
引用本文:邓建芳,李军建,杨健君. 水蒸气分压强对ITO薄膜均匀性和光电性能的影响[J]. 光电子技术, 2006, 26(3): 185-187,191
作者姓名:邓建芳  李军建  杨健君
作者单位:电子科技大学光电信息学院,成都,610054;电子科技大学光电信息学院,成都,610054;电子科技大学光电信息学院,成都,610054
基金项目:电子科技大学校科研和教改项目
摘    要:直流磁控溅射法低温制备ITO透明导电薄膜的过程中,在衬底温度为60°C其它工艺参数不变的情况下,通过改变通入的水蒸气分压0~6.67×10-3Pa制备了不同结构的薄膜,研究了水蒸气分压对ITO薄膜电阻率和膜厚的均匀性,光电特性,以及晶体结构的影响。水蒸气的引入可以改善ITO薄膜的电阻率均匀性和膜厚均匀性,增加了ITO薄膜的导电性,对ITO膜可见光透过率也有所提高。

关 键 词:氧化铟锡  磁控溅射  均匀性  光电特性
文章编号:1005-488X(2006)03-0185-03
收稿时间:2005-12-30
修稿时间:2005-12-30

The Effect of H2O Gas Partial Pressure on the Uniformity and Photoelectric Properties of ITO Films
DENG Jian-fang,LI Jun-jian,YANG Jian-jun. The Effect of H2O Gas Partial Pressure on the Uniformity and Photoelectric Properties of ITO Films[J]. Optoelectronic Technology, 2006, 26(3): 185-187,191
Authors:DENG Jian-fang  LI Jun-jian  YANG Jian-jun
Abstract:
Keywords:ITO    magnetron sputtering   uniformity   photoelectric properties
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