| 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析 |
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| 引用本文： | 潘曙娟,钟杰.基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析[J].半导体学报,2006,27(Z1). |
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| 作者姓名： | 潘曙娟 钟杰 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院微电子研究所,杭州分部,杭州,310053
2. 浙江大学信电系通信与信息处理研究所,杭州,310027 |
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| 摘 要： | 介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析.
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| 关 键 词： | 通用测试仪 直流/交流参数测试 功能测试 扫描 |
Principle, Practice, and Failure Analysis of IC Test Based on ATE |
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| Pan Shujuan,Zhong Jie.Principle, Practice, and Failure Analysis of IC Test Based on ATE[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(Z1). |
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| Authors: | Pan Shujuan Zhong Jie |
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| Keywords: | |
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