首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用有限元方法分析Si/GaAs的键合热应力
引用本文:何国荣,杨国华,郑婉华,吴旭明,王小东,曹玉莲,王青,陈良惠.用有限元方法分析Si/GaAs的键合热应力[J].半导体学报,2006,27(11).
作者姓名:何国荣  杨国华  郑婉华  吴旭明  王小东  曹玉莲  王青  陈良惠
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:在考虑材料热膨胀系数随温度变化后,采用有限元方法结合ANSYS软件对Si/GaAs键合热应力进行了分析,研究了普通应力、轴向应力和剪切力的分布云图和沿界面的分布.同时提出了新的键合结构以减小热应力的影响,计算结果证明了该结构的有效性.

关 键 词:键合  热应力  有限元分析

Analysis of Si/GaAs Bonding Stresses with the Finite Element Method
He Guorong,Yang Guohua,Zheng Wanhua,Wu Xuming,Wang Xiaodong,Cao Yulian,Wang Qing,Chen Lianghui.Analysis of Si/GaAs Bonding Stresses with the Finite Element Method[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(11).
Authors:He Guorong  Yang Guohua  Zheng Wanhua  Wu Xuming  Wang Xiaodong  Cao Yulian  Wang Qing  Chen Lianghui
Abstract:In conjunction with ANSYS, we use the finite element method to analyze the bonding stresses of Si/GaAs. We also apply a numerical model toinvestigate a contour map and the distribution of normal stress, shearing stress, and peeling stress, taking into full consideration the thermal expansion coefficient as a function of temperature. Novel bonding structures are proposed for reducing the effect of thermal stress as compared with conventional structures. Calculations show the validity of this new structure.
Keywords:bonding  thermal stress  finite element analysis
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号