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高质量InAs单晶材料的制备及其性质
引用本文:赵有文,孙文荣,段满龙,董志远,杨子祥,吕旭如,王应利.高质量InAs单晶材料的制备及其性质[J].半导体学报,2006,27(8).
作者姓名:赵有文  孙文荣  段满龙  董志远  杨子祥  吕旭如  王应利
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083
摘    要:利用液封直拉法(LEC)生长了直径50mm〈100〉和〈111〉晶向的InAs单晶.分析研究了n型杂质Sn,S和p型杂质Zn,Mn的分凝特性、晶格硬化作用、掺杂效率等.利用X射线双晶衍射分析了晶体的完整性.对InAs晶片的抛光、化学腐蚀和清洗进行了分析,在此基础上实现了抛光晶片的开盒即用(EPI-READY).

关 键 词:砷化铟  掺杂  抛光

Growth and Properties of High Quality InAs Single Crystals
Zhao Youwen,Sun Wenrong,Duan Manlong,Dong Zhiyuan,Yang Zixiang,Lü Xuru,Wang Yingli.Growth and Properties of High Quality InAs Single Crystals[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(8).
Authors:Zhao Youwen  Sun Wenrong  Duan Manlong  Dong Zhiyuan  Yang Zixiang  Lü Xuru  Wang Yingli
Abstract:
Keywords:
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