| MOSFET1/f噪声相似性的子波鉴别方法 |
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| 引用本文： | 杜磊,庄奕琪,陈治国.MOSFET1/f噪声相似性的子波鉴别方法[J].电子学报,2000,28(11):137-139. |
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| 作者姓名： | 杜磊 庄奕琪 陈治国 |
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| 作者单位： | 西安电子科技大学微电子研究所,西安 710071 |
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| 基金项目： | 中国科学院资助项目;696710003; |
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| 摘 要： | 基于傅里叶分析的功率谱密度只能反映1/f噪声的整体频率特性,子波变换模极大值能够反映1/f噪声的奇异性和非规整性,而后者才是1/f噪声最本质的特征所在.本文将这一特性用于MOSFET 1/f噪声的相似性分析.从子波变换模极大值匹配原理出发,定义了一个1/f噪声的相似系数,利用它对不同形成机制、不同微观缺陷状态、不同偏置应力作用下的MOSFET 1/f噪声进行了相似性分析,发现它可作为鉴别1/f噪声的物理起源,分析1/f噪声的微观动力学机制,筛选有潜在缺陷或损伤的MOS器件的有效手段.
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| 关 键 词： | 1/f噪声 子波变换 相似性 MOSFET |
| 文章编号： | 0372-2112(2000)11-0137-03 |
| 收稿时间： | 1999-09-14 |
Wavelet Approach to Identify the Similarity of 1/f Noises in MOSFETs |
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| DU Lei,ZHUANG Yi-qi,CHEN Zhi-guo.Wavelet Approach to Identify the Similarity of 1/f Noises in MOSFETs[J].Acta Electronica Sinica,2000,28(11):137-139. |
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| Authors: | DU Lei ZHUANG Yi-qi CHEN Zhi-guo |
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| Institution: | Microelectronics Institute,Xidian University,Xian 710071,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | f noise wavelet transform similarity MOSFET |
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