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第五章 调制盘(续)
引用本文:德欣,景琚,江楠.第五章 调制盘(续)[J].激光与红外,1977(11).
作者姓名:德欣  景琚  江楠
摘    要:§5-3 调制盘工艺跟踪系统的精度是指仪器测量值与真值之间的符合程度,是确定仪器误差限的度量。它包括系统误差和随机误差,它由组成仪器的元件、部件的制作工艺的质量和装配调整的精细程度不同而综合形成的。对于红外跟

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