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能谱重叠峰的线性剥离法
引用本文:姚琲.能谱重叠峰的线性剥离法[J].电子显微学报,1988(3).
作者姓名:姚琲
作者单位:天津大学分析中心
摘    要:1.问题的提出:由于X射线能谱化的分辨率(Mn—Ka线)一般不低于140eV,造成谱中某些分析线发生重叠。2.重叠峰线性剥离法。2.1特征线的峰形及线性剥离法的定义。能谱图中每一特征X射线峰的轮廓可用一相应的高斯函数曲线来描述,其表达式为X_i=Aexp-1/2((E-E_i)/σ)~2] (1)E_i为多道分析器第i道所对应的能量,X_i为该道内的计数,E为高斯峰值所对应的能量,可称为特征能量,σ为统计偏差,A为振幅。峰剥离实际上是峰叠加的逆过程。假设一合峰是N个子峰叠加而成,该合峰的轮廓可以由下面表达式

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