Quantitative electron-probe microanalysis without standards

Summary The dependence of the X-ray intensity emitted from the target on the take-off angle is applied to quantitative electron-probe micro-analysis without standards. The take-off angle is varied by rotating the inclined target.

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Quantitative Elektronenstrahl-Mikroanalyse ohne Standard

Zusammenfassung Die Abhängigkeit der Intensität der aus der Probe austretenden X-Strahlen von dem Abgangsfehlerwinkel dient zur quantitativen Elektronen-strahlmikroanalyse ohne Standard. Der Abgangsfehlerwinkel wird durch Drehen der schief gelagerten Probe verändert.