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| 构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论 | |
| 引用本文： | 杜慧敏,曾泽沧,韩俊刚,沈绪榜.构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论[J].微电子学与计算机,2004,21(6):185-189. |
| 作者姓名： | 杜慧敏 曾泽沧 韩俊刚 沈绪榜 |
| 作者单位： | 1. 华中科技大学图像研究所,武汉,430074;西安邮电学院计算机系,西安,710061 2. 西安邮电学院计算机系,西安,710061 3. 骊山微电子公司,西安,710010 |
| 基金项目： | 国家自然科学资金资助(项目编号90207015) |
| 摘 要： | 由于IC设计复杂度日益增加，用于IC设计功能验证的时间占到整个设计周期的60％—70％。我们认为针对某个领域的产品，开发可配置的验证环境是验证领域的一个方向，本文重点讨论开发特定应用领域芯片的验证环境方法，并介绍了根据该方法，我们开发的一个面向SDH领域系列芯片的验证环境。 |
| 关 键 词： | 功能验证 BFM模型 同步数字系列断言技术 |
| 文章编号： | 1000-7180(2004)06-185-05 |
| 修稿时间： | 2003年11月4日 |
Creating Verification Environment For Field-Specific Chips |
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| DU Hui-min,ZENG Ze-cang,Han Jun-gang,SHEN Xu-bang.Creating Verification Environment For Field-Specific Chips[J].Microelectronics & Computer,2004,21(6):185-189. | |
| Authors: | DU Hui-min ZENG Ze-cang Han Jun-gang SHEN Xu-bang |
| Institution: | DU Hui-min1,ZENG Ze-cang2,Han Jun-gang2,SHEN Xu-bang3 |
| Abstract: | With the development of IC technology and increase of design complexity, functional verification of medium to large scale ASICs consumes over 60-70% of the design cycle?A method to improving verification efficiency might be developing field-specific verification environments, which can be configured to meet different users' requirements in the field. This article focuses on the methodology of developing field-specific verification environment and introduce a SDH-orient verification environment based on the methodology which provides flexible configuration for different SDH series chip designs to quickly and easily create random scenarios. |
| Keywords: | SDH functional verification assertion BFM |
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