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| 关于用干涉仪测膜厚问题的两点讨论 | |
| 作者姓名： | 郑永星 |
| 作者单位： | 天津大学应用物理学系 |
| 摘 要： | 关于用干涉仪测膜厚问题的两点讨论郑永星（天津大学应用物理学系）一、干涉条纹突变移动量的测量问题本刊１９９３年第６期《用迈克尔孙干涉仪测薄膜厚度》一文断言，在迈氏干涉仪的一臂上置人折射率为ｎ的薄膜，因“导致干涉条纹的移动是个突变过程，无法测出干涉条纹移... |
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