掺杂正八面体AgBr乳剂介电频谱的研究-I离子的影响

本文研究了用不同量的I~-(1×10~(-3)-4×10~(-2)mol I~-/mol AgBr)进行表面掺杂的正八面体AgBr乳剂的介电吸收频谱,并用强X射线光源相应作了多晶X射线物相分析。当I~-的加入量小于1×10~(-2)mol/mol AgBr时,介电吸收峰随加入I~-量的增加而逐渐向高频方向位移。吸收峰弥散,分布很宽。当I~-的加入量大于1×10~(-2)mol/mol AgBr时,样品的介电吸收峰不再明显向高频方向移动,峰形亦相对比较尖锐。已有证据表明,在掺杂I~-以后,在AgBr微晶的表明层内除生成Ag(Br,I)混晶外,还附生有一薄层β-AgI.分散相颗粒表面层大约20范围内的组成与结构对非均匀电介质中的界面极化效应有重要影响,此外,对界面极化效应应用的可能性作了初步探讨。