基于扫描探针显微术的微区光电性质测试方法和装置 |
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引用本文: | 魏艳萍,马永存,魏安详,卢焕明.基于扫描探针显微术的微区光电性质测试方法和装置[J].分析科学学报,2016(5):709-712. |
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作者姓名: | 魏艳萍 马永存 魏安详 卢焕明 |
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作者单位: | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所,浙江宁波,315201 |
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基金项目: | 中国科学院设备功能开发技术创新项目 |
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摘 要: | 本文以一台常规的Aglient 5500型的扫描探针显微镜为基础,通过配置光源及聚焦系统、研制光强度自动控制部件、研制样品台等方法将太阳光模拟器发射的光引入样品的探针扫描区域,开发了利用扫描探针显微镜原位测试太阳能电池材料微区光电性质的功能。光电性质的测试过程可在手套箱内进行,解决了有机半导体容易吸收空气中的水和氧而失效的问题。
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关 键 词: | 扫描探针显微镜 光电性质 太阳能电池 |
Scanning Probe Microscopy Based Method and Equipment for Measurement of Local Photoelectric Property |
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Abstract: | |
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Keywords: | Scanning probe microscopy Photoelectric property Solar cell |
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