|
|||||
|
|
| 方差分析两两比较法在光谱分析用块状标准样品单元内均匀性检验中的应用 | |
| 作者姓名： | 张增坤 刘鹏 梁红艳 |
| 作者单位： | 石家庄创谱科技有限公司,石家庄,050091 |
| 摘 要： | <正>标准样品预期用途只使用单元的一部分,单元的表面是使用部分,应说明单元内均匀性的影响[1]。光谱分析用块状标准样品的使用区域是表面部分,因此,应对单元内的均匀性进行考察。块状标准样品的均匀性检验一般采用单因素方差分析法[2-4]、双因素方差分析法[5]或极差法[6],这些评价均匀性方 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |